La gamme multi-éléments s’agrandit !
Le XEO de Sonatest redéfinit le standard de l’inspection par ultrasons. Ce détecteur multiéléments (PAUT) et TFM/TFMi innove avec un contrôle vocal inédit et une architecture ouverte prête pour l’IA. Ultra-robuste et intuitif, c’est la solution de pointe pour des contrôles non destructifs rapides sur le terrain.
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En exclusivité pour la France, Sofranel est fier de vous présenter le XEO qui vient étoffer la gamme multi éléments en plus du VEO3. Le nouvel appareil de Sonatest redéfinit les bases dans les inspections ultrasons multiéléments. Il associe une électronique multiéléments éprouvée à une interface de travail intuitive pour résoudre vos problématiques de contrôle le plus rapidement et le plus simplement possible.
Avancé ne veut pas nécessairement dire compliqué ! Le XEO est la solution idéale pour tous les inspecteurs, offrant une navigation simple et accessible avec un minimum de formation.
L'écosystème du XEO relève le défi de toutes les inspections de Contrôle Non Destructif, quelle que soit la géométrie de la pièce.
Multiélément / Phased Array (PAUT) : l'appareil est capable de représenter la géométrie véritable avec un balayage sectoriel ou linéaire. Le tracé de faisceaux 3D embarqué vous permet de valider vos configurations pour assurer une couverture maximale lors de vos inspections.
TFM / TFMi de haute précision : obtenez des images rapides et en direct sur les pièces plates et courbes. Le système intègre 16 modes de propagation proposés et garantit la fidélité du profil de défaut avec une résolution atteignant 4 mégapixels par image.
Inspection Multi-techniques : l'utilisation de techniques complémentaires garantit un taux de détection plus élevé. Avec le XEO, toutes les techniques PAUT, TFM et TOFD peuvent être utilisées simultanément dans la même configuration. L'appareil peut exécuter simultanément jusqu'à 10 balayages PAUT, 8 balayages TFM/TFMi et 4 balayages TOFD !
Le XEO offre la flexibilité nécessaire pour tirer parti des dernières technologies et automatisations de votre secteur d'activité.
Contrôle vocal inédit : pilotez les paramètres d'acquisition à la voix grâce au microphone et au haut-parleur directement intégrés dans l'appareil.
Format de données ouvert : le système enregistre vos inspections sous un format de fichier ouvert (.ONDE), facilitant le traitement des données dans vos propres environnements.
Prêt pour l'Intelligence Artificielle : l'architecture du XEO est conçue pour l'intégration de l'IA et l'automatisation des systèmes.
API à distance : bénéficiez d'un accès complet et à distance aux paramètres de l'appareil et au flux de données.
La vraie force d'un système haut de gamme réside dans sa capacité à s'adapter. Pour une inspection complète en un seul scan, profitez de la flexibilité de nos mini-docks interchangeables ! Le XEO intègre une détection automatique du Mini-dock pour une configuration immédiate.
Autonomie : avec ses deux batteries échangeables à chaud, vous bénéficiez d'une autonomie de plus de 5h sans interruption de vos inspections !
Résistance extrême : le boîtier de 5,2 kg (avec batteries) est certifié IP65 et conçu pour résister à des conditions difficiles. Ses vibrations ont été testées suivant la norme MIL-STD 810H.
Puissance informatique : l'appareil embarque le système Linux KDE Plasma OS avec une RAM de 32 GB et un disque SSD industriel de 500 GB fonctionnant à 4 GB/s, garantissant aucune limite de taille pour le stockage de données.
Confort de lecture et double affichage : profitez d'un écran tactile capacitif rétroéclairé de 11,56 pouces (haute définition 1920x1080) offrant la possibilité de dupliquer ou d'étendre l'affichage.
Prêt à passer à la vitesse supérieure ? Envie de tester sur vos pièces ? Demandez une démonstration sur site en cliquant ici !
En tant que fournisseur de solutions CND, Sofranel vous accompagne de la formation à l'étalonnage et au SAV.
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Ultrasons multi éléments / PA
Ultrasons conventionnels
